ФОТОЭЛЕМЕНТЫ НА ОСНОВЕ Si C МИКРОБАРЬЕРАМИ ШОТТКИ

Authors

  • Н.Ф. Зикриллаев Ташкентский государственный технический университет Author
  • Р.П. Бабаходжаев Ташкентский государственный технический университет Author
  • Э.Б. Саитов Ташкентский университет прикладных наук Author
  • О. Жураев Ташкентский государственный технический университет Ташкентский университет прикладных наук Author

Abstract

Как показано в работах [1, 2] в условиях низкотемпературного и многоэтапного легирования кремния, атомы никеля в решетке создают кластеры. Управляя условиями легирования можно варьировать размеры таких кластеров в широком интервале 0,1¸5 мкм.

References

М.К. Бахадырханов, К.С. Аюпов, Э.У. Арзукулов, С.Н. Сражев, Т.У. Тошбоев // Термические свойство кремния с кластерами атомов никеля // Физика.–Томск, 2008.– № 3 (11).– C.170-172.

М. К. Бахадырханов, Х. М. Илиев, К. С. Аюпов, Б. А. Абдурахмонов, П. Ю. Кривенко, Р. Л. Холмухамедов Самоорганизация примесных атомов никеля в кремнии // Неорганические материалы, 2011, том 47, № 9, с. 1062–1064.

Published

2024-07-31

Issue

Vol. 4 No. 7 (Special Issue) (2024): Practical problems and solutions to the use of theoretical laws in the sciences of the 21st century

Section

Articles

License

Creative Commons License

This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.

How to Cite

ФОТОЭЛЕМЕНТЫ НА ОСНОВЕ Si C МИКРОБАРЬЕРАМИ ШОТТКИ. (2024). Eurasian Journal of Academic Research, 4(7 (Special Issue), 1310-1311. https://in-academy.uz/index.php/EJAR/article/view/6004