ФОТОЭЛЕМЕНТЫ НА ОСНОВЕ Si C МИКРОБАРЬЕРАМИ ШОТТКИ

Авторы

  • Н.Ф. Зикриллаев Ташкентский государственный технический университет Автор
  • Р.П. Бабаходжаев Ташкентский государственный технический университет Автор
  • Э.Б. Саитов Ташкентский университет прикладных наук Автор
  • О. Жураев Ташкентский государственный технический университет Ташкентский университет прикладных наук Автор

Аннотация

Как показано в работах [1, 2] в условиях низкотемпературного и многоэтапного легирования кремния, атомы никеля в решетке создают кластеры. Управляя условиями легирования можно варьировать размеры таких кластеров в широком интервале 0,1¸5 мкм.

Библиографические ссылки

М.К. Бахадырханов, К.С. Аюпов, Э.У. Арзукулов, С.Н. Сражев, Т.У. Тошбоев // Термические свойство кремния с кластерами атомов никеля // Физика.–Томск, 2008.– № 3 (11).– C.170-172.

М. К. Бахадырханов, Х. М. Илиев, К. С. Аюпов, Б. А. Абдурахмонов, П. Ю. Кривенко, Р. Л. Холмухамедов Самоорганизация примесных атомов никеля в кремнии // Неорганические материалы, 2011, том 47, № 9, с. 1062–1064.

Опубликован

2024-07-31

Выпуск

Том 4 № 7 (Special Issue) (2024): Practical problems and solutions to the use of theoretical laws in the sciences of the 21st century

Раздел

Articles

Лицензия

Лицензия Creative Commons

Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.

Как цитировать

ФОТОЭЛЕМЕНТЫ НА ОСНОВЕ Si C МИКРОБАРЬЕРАМИ ШОТТКИ. (2024). Евразийский журнал академических исследований, 4(7 (Special Issue), 1310-1311. https://in-academy.uz/index.php/EJAR/article/view/6004